產品概述
品牌 | ZEISS/蔡司 | 價格區間 | 30萬-40萬 |
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探測器類 | 硅漂移探測器(SDD) | 儀器種類 | 進口 |
應用領域 | 醫療衛生,環保,生物產業,能源,交通 | 可售地 | 全國 |
蔡司Xradia 630Versa X射線顯微鏡
蔡司Xradia 630 Versa X射線顯微鏡是蔡司公司推出的一款高性能的X射線顯微鏡,屬于Xradia Versa系列的前沿產品。這款顯微鏡以遠距離分辨率(Raad)技術而著名,同時結合AI驅動的X射線和Laserfib三維顯微技術,實現了全新的樣品測試和應用方式。
蔡司Xradia 630 Versa X射線顯微鏡采用光學和幾何兩級放大成像架構,能夠實現大樣品高分辨率成像。其閃爍體和光學物鏡耦合技術,使得成像具有高襯度和增強的相位襯度,從而大大拓展了無損成像的研究界限,提高了研究靈活性。
此外,蔡司Xradia 630 Versa X射線顯微鏡還結合了深度學習算法,全面提升XRM圖像質量。這種技術不僅保留了視野范圍內的整體結構,還提高了細節部分的分辨率,實現了更好的自動化、精度、重復性和速度。無論是硬質或軟質材料、納米科學、工程或能源材料、導電或絕緣材料,這款顯微鏡都能提供樣品加工速度。
蔡司Xradia 630 Versa X射線顯微鏡的這些特點使得它在材料科學、電池研究、*電子學、生命科學等領域內具有廣泛的應用前景。無論是進行材料研究,還是進行工業研發,這款顯微鏡都能提供強大的技術支持。
總的來說,蔡司Xradia 630Versa X射線顯微鏡是一款集成了遠距離分辨率技術、AI驅動的X射線和Laserfib三維顯微技術的高性能顯微鏡。它的出現,無疑將為科學研究和工業發展帶來更大的便利和可能性。
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